半導體測試系統-深圳市云帆興燁科技有限公司

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LET-2000系列半導體動態參數測試系統-云帆興燁

半導體動態參數測試系統采用全球最先發布的12 bit 示波器：正確反映波形的細節，并準確計算出參數
LET-5000半導體靜態參數測試系統-云帆興燁

LET-5000半導體測試系統是一款測量與分析功率半導體器件靜態參數的專用儀器，為所有類型的功率半導體器件提供靜態參數測量解決方案。
Keithley 4200A-SCS半導體測試儀系統-云帆興燁

使用4200A-SCS 加快半導體設備、材料和工藝開發的探索、可靠性和故障分析研究。業內領先性能參數分析儀，提供同步電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 和超快脈沖 I-V 測量。
Keithley 4200-SCS型半導體特性分析系統-云帆興燁

4200-SCS系統是用于器件、材料和半導體工藝電氣特性分析的完整解決方案
Keithley 2600系列半導體測試系統-云帆興燁

開發和使用 MOSFET、IGBT、二極管和其他大功率器件，需要全面的器件級檢定，如擊穿電壓、通態電流和電容測量。
Keysight B1505A 功率器件分析儀-云帆興燁

Keysight B1505A 功率器件分析儀曲線追蹤儀是唯一能夠對 sub-pA 電平至 10 kV 和 1500 A 的高功率器件進行表征的綜合解決方案。
ITC57300動態參數測試系統-云帆興燁

可在絕緣柵雙極晶體管（IGBT），功率MOSFET，二極管和其他雙極器件之類的半導體器件上執行無損瞬態測量

开心激情6月天

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